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數字集成電路設計 版權信息
- ISBN:9787302655459
- 條形碼:9787302655459 ; 978-7-302-65545-9
- 裝幀:平裝-膠訂
- 冊數:暫無
- 重量:暫無
- 所屬分類:>>
數字集成電路設計 本書特色
本書是一本適用于電子信息工程、集成電路設計類專業的集成電路設計方面入門級教材,內容涵蓋集成電路設計相關的基礎知識,包括設計方法學、生產工藝、EDA相關微電子學基礎知識、基本軟件工具的使用、設計步驟、Verilog HDL硬件描述語言、測試方法、可測試性設計和SOC設計等。
數字集成電路設計 內容簡介
本書適宜做為電子工程類專業讀者的集成電路設計方面的教材,其建設目標是:期望讀者通過對本教材的學習,使讀者對數字系統集成電路設計所需基本知識有一個較全面的了解和掌握;同時,根據對應專業的特點,使讀者對集成電路可測試性設計有關知識和當今較優選的集成電路設計方法、及Verilog HDL在集成電路設計全過程的運用也有所了解。 為此,本教材內容將涵蓋設計方法學、生產工藝、EDA軟件工具、相關微電子學基礎知識、集成電路設計步驟、Verilog HDL硬件描述語言、集成電路測試方法、可測試性設計和SoC設計等集成電路設計方面的關鍵知識點
數字集成電路設計 目錄
參考文獻 第5章集成電路測試與可測試性設計 5.1集成電路測試技術概述 5.1.1集成電路測試原理 5.1.2集成電路測試的分類 5.1.3自動測試設備介紹 5.2數字集成電路中的故障模型 5.2.1缺陷、失效和故障的概念與區別 5.2.2常用的幾種故障模型 5.2.3故障的壓縮和故障冗余 5.3邏輯模擬和故障模擬 5.3.1邏輯模擬算法 5.3.2故障模擬算法 5.4組合電路測試生成 5.4.1代數法 5.4.2路徑敏化法 5.4.3D算法 5.4.4組合電路測試生成算法總結 5.5可測試性設計 5.5.1專用可測試性設計技術 5.5.2掃描路徑法 5.5.3邊界掃描法 5.5.4內建自測試法 5.6SoC測試技術 5.6.1基于核的SoC測試的基本問題 5.6.2SoC測試結構 5.6.3IEEE P1500標準 5.6.4SoC的測試策略 5.7納米技術時代測試技術展望 習題
參考文獻 第6章Verilog HDL數字系統設計 6.1Verilog HDL入門知識 6.1.1Verilog HDL概述 6.1.2Verilog HDL設計方法 6.1.3Verilog HDL中的模塊 6.1.4Verilog HDL中對所用詞的約定法則 6.1.5數、數據類型與變量 6.1.6運算表達式中的運算符與操作數 6.2Verilog HDL行為描述與建模 6.2.1行為建模的基本程序架構 6.2.2塊結構 6.2.3塊結構中的常用程序語句 6.2.4賦值語句 6.2.5塊結構中的時間控制 6.2.6行為描述與建模中的任務和函數 6.3Verilog HDL結構描述與建模
6.3.1結構建模的基本程序架構 6.3.2層次化設計中的結構描述與建模 6.3.3基于Verilog HDL內置基本邏輯門的結構描述與建模 6.4Verilog HDL仿真模塊與模塊仿真 6.4.1Verilog HDL仿真模塊構建 6.4.2Verilog HDL系統任務和系統函數 習題 參考文獻 第7章系統集成電路SoC設計 7.1系統集成電路SoC設計簡介 7.1.1集成電路設計方法的演變 7.1.2SoC概述 7.1.3SoC設計面臨的新挑戰 7.1.4SoC設計對IP的挑戰 7.1.5SoC設計的標準化 7.2SoC的關鍵技術 7.2.1IP核復用設計 7.2.2軟/硬件協同設計 7.2.3互連效應 7.2.4物理綜合 7.2.5低功耗設計 7.3SoC設計思想與設計流程 7.3.1SoC設計思想 7.3.2SoC設計流程 7.3.3基于復用平臺的SoC設計 7.4IP核技術與IP核設計標準化 7.4.1IP核技術的進展 7.4.2IP核設計流程 7.4.3IP核的設計驗證 7.4.4IP核的復用技術 7.5片上總線 7.5.1源于傳統微機總線的片上總線 7.5.2片上總線的接口標準 7.5.3片上總線的層次化結構 7.5.4AMBA總線 7.5.5Avalon總線 7.5.6OCP總線 7.5.7主從式Wishbone總線 7.5.8CoreConnect總線 習題 參考文獻 附錄A第6章習題技術要求與仿真要求參考 附錄B英語縮略語
數字集成電路設計 作者簡介
李嬌,博士,上海大學講師。主要研究方向:集成電路設計與可測性設計,機器視覺及應用等。承擔多項國家及省部級項目,發表多篇學術論文,獲得授權專利5項。
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