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石墨烯材料質量技術基礎:計量 版權信息
- ISBN：9787562864141
- 條形碼：9787562864141 ; 978-7-5628-6414-1
- 裝幀：一般輕型紙
- 冊數(shù)：暫無
- 重量：暫無
- 所屬分類：>>
石墨烯材料質量技術基礎:計量 本書特色
石墨烯是碳的同素異形體大家族的又一個傳奇，也是當今橫跨學術界和產(chǎn)業(yè)界的**明星，幾乎到了家喻戶曉、婦孺皆知的程度。當然，石墨烯是當之無愧的。作為由單層碳原子構成的蜂窩狀二維原子晶體材料，石墨烯擁有無與倫比的特性。理論上講，它是導電性和導熱性較好的材料，也是理想的輕質高強材料。正因如此，一經(jīng)問世便吸引了**范圍的關注。石墨烯有可能創(chuàng)造一個全新的產(chǎn)業(yè)，石墨烯產(chǎn)業(yè)將成為未來**高科技產(chǎn)業(yè)競爭的高地，這一點已經(jīng)成為**外學術界和產(chǎn)業(yè)界的共識。 從2004年至今，已經(jīng)有了近十六年的歷史沉淀。無論是石墨烯的基礎研究，還是石墨烯材料的產(chǎn)業(yè)化實踐，人們都有了*多的一手材料，*有可能對石墨烯材料有一個***套叢書出的、科學的、理性的認識。總結歷史，是為了*好地走向未來。對于新興的石墨烯產(chǎn)業(yè)來說，戰(zhàn)略前沿新材料——石墨烯出版工程的出版意義也是不言而喻的。事實上，**外已經(jīng)出版了數(shù)十部石墨烯相關書籍，其中不乏經(jīng)典性著作。本叢書的定位有所不同，希望能夠全面總結石墨烯相關的知識積累，反映石墨烯領域的**外前沿研究進展，展示石墨烯新材料的產(chǎn)業(yè)化現(xiàn)狀與發(fā)展前景，尤其希望能夠充分體現(xiàn)國人對石墨烯領域的貢獻。 本叢書共包括22分冊，執(zhí)筆作者20余位，都是石墨烯領域的重量級學者、專家，因此可以從源頭上保障叢書的專業(yè)性和科學性。叢書分五大部分，囊括了從石墨烯的基本性質和表征技術，到石墨烯材料的制備方法及其在不同領域的應用，以及石墨烯產(chǎn)品的計量檢測標準等***的知識總結。同時，兩份產(chǎn)業(yè)研究報告詳細闡述了世界各國的石墨烯產(chǎn)業(yè)發(fā)展現(xiàn)狀和未來發(fā)展趨勢。除此之外，叢書還為廣大石墨烯迷們提供了一份科普讀物《有問必答：石墨烯的魅力》，針對廣泛征集到的石墨烯相關問題答疑解惑，去偽求真。 本叢書的內(nèi)容涵蓋石墨烯新材料的方方面面，每個分冊也相對獨立，具有很強的系統(tǒng)性、知識性、專業(yè)性和即時性，凝聚著各位作者的研究心得、智慧和心血，供不同需求的廣大讀者參考使用。希望叢書的出版對中國的石墨烯研究和中國石墨烯產(chǎn)業(yè)的健康發(fā)展有所助益。 1. “戰(zhàn)略前沿新材料——石墨烯出版工程” “十三五”**重點出版物出版規(guī)劃項目\/**出版基金叢書由石墨烯的基本性質與表征技術、石墨烯的制備技術和計量標準、石墨烯的分類應用、石墨烯的發(fā)展現(xiàn)狀報告、石墨烯科普知識等五大部分共22分冊構成，本書為第07分冊。 2. 叢書由我國石墨烯研究領域的主要開拓者及我國石墨烯發(fā)展的重要推動者、北京大學教授、北京石墨烯研究院創(chuàng)院院長劉忠范院士親自策劃并擔任總主編。 3.全書采用80克雅質紙，彩色印刷，清晰直觀地展現(xiàn)了石墨烯的結構、模擬及表征結果。
石墨烯材料質量技術基礎:計量 內(nèi)容簡介
《石墨烯材料質量技術基礎：計量》共七章。前兩章主要介紹了計量與材料計量的基本概念，以及石墨烯材料計量、標準的規(guī)劃設計及框架。后五章主要介紹了石墨烯材料質量評價中關于真假判斷的部分計量技術。第3章介紹了石墨烯材料拉曼光譜計量技術，第4章介紹了X射線衍射法測量石墨烯材料晶體結構，第5章介紹了原子力顯微鏡法測量石墨烯材料厚度，第6章介紹了石墨烯材料電子顯微鏡計量技術，第7章介紹了石墨烯粉體化學成分測量技術。附錄補充了X射線衍射儀的溯源性研究、掠入射X射線反射膜厚測量儀器校準的內(nèi)容。
石墨烯材料質量技術基礎:計量 目錄
第1章 計量與材料計量
1．1 計量概述
1．2 計量與測量
1．2．1 測量
1．2．2 計量
1．2．3 計量特點
1．3 測量誤差與測量不確定度
1．3．1 測量誤差
1．3．2 測量不確定度
1．4 標準物質
1．5 計量的作用
1．5．1 計量對國民經(jīng)濟的作用
1．5．2 計量在基礎研究中的作用
1．6 材料計量概述
1．6．1 材料計量研究內(nèi)容
1．6．2 材料計量研究成果及社會服務
1．6．3 材料計量國內(nèi)外現(xiàn)狀
1．7 國際計量組織
1．7．1 國際計量局（BIPM）
1．7．2 亞太計量規(guī)劃組織（APMP）
1．7．3 先進材料與標準凡爾賽合作計劃（VAMAS）
1．8 計量比對
1．9 總結與展望
1．9．1 總結
1．9．2 展望
參考文獻
第2章 國家質量基礎設施及石墨烯材料計量
2．1 我國古代質量觀——-度量衡
2．2 現(xiàn)代質量觀——-國家質量基礎設施
2．3 計量在國家質量基礎設施中的基礎地位
2．4 納米技術對計量技術的需求
2．5 石墨烯材料產(chǎn)業(yè)國家質量基礎設施技術發(fā)展
2．6 石墨烯材料關鍵特性參數(shù)調(diào)研
參考文獻
第3章 石墨烯材料拉曼光譜計量技術
3．1 概述
3．2 拉曼光譜儀溯源
3．2．1 拉曼光譜測量原理
3．2．2 拉曼頻移的溯源
3．2．3 拉曼相對強度的溯源
3．3 拉曼頻移和相對強度標準物質的研制
3．3．1 拉曼頻移標準物質
3．3．2 拉曼相對強度標準物質
3．4 基于拉曼頻移和相對強度標準物質校準拉曼光譜儀的方法
3．4．1 基于拉曼頻移標準物質校準拉曼光譜儀的方法
3．4．2 基于拉曼相對強度標準物質校準拉曼光譜儀的方法
3．5 石墨烯材料拉曼光譜測量標準方法
3．5．1 測量方法研究
3．5．2 標準方法建立過程中的國內(nèi)比對
3．6 小結
參考文獻
第4章 X射線衍射法測量石墨烯材料晶體結構
4．1 概述
4．2 設備溯源和校準
4．2．1 設備溯源
4．2．2 設備校準
4．3 測量方法研究
4．3．1 測量樣品準備
4．3．2 取樣原則
4．3．3 測量條件
4．3．4 圖譜分析及數(shù)據(jù)處理
4．4 計量比對
4．5 標準方法
4．6 小結
參考文獻
第5章 原子力顯微鏡法測量石墨烯材料厚度
5．1 概述
5．2 原子力顯微鏡技術原理
5．3 原子力顯微鏡設備校準與溯源
5．4 測量方法建立
5．4．1 AFM掃描模式的選擇
5．4．2 AFM測量用基底的影響
5．4．3 AFM測量參數(shù)的影響
5．4．4 AFM數(shù)據(jù)分析處理的方法
5．4．5 不確定度評定
5．5 計量比對
5．5．1 比對樣品的選取
5．5．2 國內(nèi)比對
5．5．3 國際比對
5．6 測量方法標準化
5．7 小結
參考文獻
第6章 石墨烯材料電子顯微鏡計量技術
6．1 掃描電鏡測量石墨烯材料片層尺寸和覆蓋度
6．1．1 掃描電鏡溯源及校準
6．1．2 石墨烯片層尺寸測量方法
6．1．3 大范圍金屬基底上石墨烯薄膜覆蓋度的測量方法
6．2 透射電鏡測量石墨烯材料形貌、層數(shù)和層間距
6．2．1 透射電鏡校準溯源
6．2．2 透射電鏡放大倍率校準用標準物質
6．2．3 透射電鏡校準方法
6．2．4 石墨烯形貌、層數(shù)和層間距的透射電鏡測量方法
6．3 小結
參考文獻
第7章 石墨烯粉體化學成分測量技術
7．1 概述
7．2 XPS儀器測量要求
7．2．1 XPS儀器簡介
7．2．2 XPS儀器檢定校準
7．2．3 XPS儀器檢定校準用標準物質
7．2．4 XPS儀器檢測注意事項
7．3 石墨烯粉體的C-O測量技術研究
7．3．1 測量樣品選取
7．3．2 石墨烯粉體XPS測量方法開發(fā)
7．3．3 石墨烯粉體C/O測量實例
7．4 ICPMS儀器測量要求
7．5 石墨烯粉體中金屬雜質測量技術研究
7．5．1 測量樣品處理
7．5．2 石墨烯粉體的ICPMS測量程序
7．5．3 石墨烯粉體中金屬雜質測量實例
7．6 標準測量方法開發(fā)
7．7 小結
參考文獻
附錄1 X射線衍射儀的溯源性研究
附錄2 掠入射X射線反射膜厚測量儀器校準
索引
1．1 計量概述
1．2 計量與測量
1．2．1 測量
1．2．2 計量
1．2．3 計量特點
1．3 測量誤差與測量不確定度
1．3．1 測量誤差
1．3．2 測量不確定度
1．4 標準物質
1．5 計量的作用
1．5．1 計量對國民經(jīng)濟的作用
1．5．2 計量在基礎研究中的作用
1．6 材料計量概述
1．6．1 材料計量研究內(nèi)容
1．6．2 材料計量研究成果及社會服務
1．6．3 材料計量國內(nèi)外現(xiàn)狀
1．7 國際計量組織
1．7．1 國際計量局（BIPM）
1．7．2 亞太計量規(guī)劃組織（APMP）
1．7．3 先進材料與標準凡爾賽合作計劃（VAMAS）
1．8 計量比對
1．9 總結與展望
1．9．1 總結
1．9．2 展望
參考文獻
第2章 國家質量基礎設施及石墨烯材料計量
2．1 我國古代質量觀——-度量衡
2．2 現(xiàn)代質量觀——-國家質量基礎設施
2．3 計量在國家質量基礎設施中的基礎地位
2．4 納米技術對計量技術的需求
2．5 石墨烯材料產(chǎn)業(yè)國家質量基礎設施技術發(fā)展
2．6 石墨烯材料關鍵特性參數(shù)調(diào)研
參考文獻
第3章 石墨烯材料拉曼光譜計量技術
3．1 概述
3．2 拉曼光譜儀溯源
3．2．1 拉曼光譜測量原理
3．2．2 拉曼頻移的溯源
3．2．3 拉曼相對強度的溯源
3．3 拉曼頻移和相對強度標準物質的研制
3．3．1 拉曼頻移標準物質
3．3．2 拉曼相對強度標準物質
3．4 基于拉曼頻移和相對強度標準物質校準拉曼光譜儀的方法
3．4．1 基于拉曼頻移標準物質校準拉曼光譜儀的方法
3．4．2 基于拉曼相對強度標準物質校準拉曼光譜儀的方法
3．5 石墨烯材料拉曼光譜測量標準方法
3．5．1 測量方法研究
3．5．2 標準方法建立過程中的國內(nèi)比對
3．6 小結
參考文獻
第4章 X射線衍射法測量石墨烯材料晶體結構
4．1 概述
4．2 設備溯源和校準
4．2．1 設備溯源
4．2．2 設備校準
4．3 測量方法研究
4．3．1 測量樣品準備
4．3．2 取樣原則
4．3．3 測量條件
4．3．4 圖譜分析及數(shù)據(jù)處理
4．4 計量比對
4．5 標準方法
4．6 小結
參考文獻
第5章 原子力顯微鏡法測量石墨烯材料厚度
5．1 概述
5．2 原子力顯微鏡技術原理
5．3 原子力顯微鏡設備校準與溯源
5．4 測量方法建立
5．4．1 AFM掃描模式的選擇
5．4．2 AFM測量用基底的影響
5．4．3 AFM測量參數(shù)的影響
5．4．4 AFM數(shù)據(jù)分析處理的方法
5．4．5 不確定度評定
5．5 計量比對
5．5．1 比對樣品的選取
5．5．2 國內(nèi)比對
5．5．3 國際比對
5．6 測量方法標準化
5．7 小結
參考文獻
第6章 石墨烯材料電子顯微鏡計量技術
6．1 掃描電鏡測量石墨烯材料片層尺寸和覆蓋度
6．1．1 掃描電鏡溯源及校準
6．1．2 石墨烯片層尺寸測量方法
6．1．3 大范圍金屬基底上石墨烯薄膜覆蓋度的測量方法
6．2 透射電鏡測量石墨烯材料形貌、層數(shù)和層間距
6．2．1 透射電鏡校準溯源
6．2．2 透射電鏡放大倍率校準用標準物質
6．2．3 透射電鏡校準方法
6．2．4 石墨烯形貌、層數(shù)和層間距的透射電鏡測量方法
6．3 小結
參考文獻
第7章 石墨烯粉體化學成分測量技術
7．1 概述
7．2 XPS儀器測量要求
7．2．1 XPS儀器簡介
7．2．2 XPS儀器檢定校準
7．2．3 XPS儀器檢定校準用標準物質
7．2．4 XPS儀器檢測注意事項
7．3 石墨烯粉體的C-O測量技術研究
7．3．1 測量樣品選取
7．3．2 石墨烯粉體XPS測量方法開發(fā)
7．3．3 石墨烯粉體C/O測量實例
7．4 ICPMS儀器測量要求
7．5 石墨烯粉體中金屬雜質測量技術研究
7．5．1 測量樣品處理
7．5．2 石墨烯粉體的ICPMS測量程序
7．5．3 石墨烯粉體中金屬雜質測量實例
7．6 標準測量方法開發(fā)
7．7 小結
參考文獻
附錄1 X射線衍射儀的溯源性研究
附錄2 掠入射X射線反射膜厚測量儀器校準
索引
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